Creați-vă propriul profil
Citat de
Toate | Din 2019 | |
---|---|---|
Referințe bibliografice | 8124 | 4671 |
h-index | 44 | 35 |
i10-index | 149 | 102 |
Acces public
Afișați-le pe toate12 articole
2 articole
disponibile
indisponibile
Pe baza cerințelor privind finanțarea
Coautori
- Juergen BruggerProfessor of Microengineering (EPFL)Adresă de e-mail confirmată pe epfl.ch
- Christian BergaudCNRS Researcher, LAAS, University of Toulouse, FranceAdresă de e-mail confirmată pe laas.fr
- Ikjoo ByunSamsung ElectronicsAdresă de e-mail confirmată pe samsung.com
- Sebastian VolzCNRS - University of TokyoAdresă de e-mail confirmată pe iis.u-tokyo.ac.jp
- Jose Ordonez-MirandaCNRS Full Researcher, University of TokyoAdresă de e-mail confirmată pe iis.u-tokyo.ac.jp
- Jacques FattaccioliEcole Normale Supérieure, Sorbonne Université, CNRSAdresă de e-mail confirmată pe ens.psl.eu
- Jurriaan Huskensprofessor of supramolecular chemistry, University of TwenteAdresă de e-mail confirmată pe utwente.nl
- Arum HanProfessor of Texas A&M UniversityAdresă de e-mail confirmată pe ece.tamu.edu
- Benjamin SamsonInstitut Langevin, EspciAdresă de e-mail confirmată pe espci.fr
- Lionel BuchaillotIEMN UMR8520Adresă de e-mail confirmată pe univ-lille.fr
Urmăriți
Beomjoon Kim
The University of Tokyo, Institute of Industrial Science
Adresă de e-mail confirmată pe iis.u-tokyo.ac.jp - Pagina de pornire